ZA-571A锐科管熔断时间测试仪电流200A可定制生产厂家智能丝测试仪是一款用于小型熔断器性能测试的用仪器,用于管熔断时间、熔断电流的检测,
满足标准G 9364.1-2015 、GB 9364.3-2018相关标准中的熔断、耐久性试验要求。
本仪器采用7寸显示触摸屏显示和参数设置,采用ARM控制器进行控制采集,试验电流高达200A的试验设备。
具有操作简便,智能可靠等特点。
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项目 |
要求及指标 |
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输入电压范围 |
220V±10﹪,50Hz/60Hz |
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测试电流范围 |
0.5~150A,1﹪RD±0.2﹪fs |
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测试开路电压精度 |
1﹪RD±0.2﹪fs |
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试验模式 |
熔断时间测试 M1和耐久性测试M2 |
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测试时间范围
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M1 模式时间范围:10mS--60分钟 M2 模式时间范围:10mS--100小时 |
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耐久性时间设置 |
0~99H59M |
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次数设置 |
0~9999次 |
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时间分辨率 |
10ms |
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测试电流步 |
50mA~1A,可设置 |
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测试电流精度 |
M1 模式< ±0.4﹪SET + 50mA(‘SET’为设置数值), M2 模式<±0.5﹪SET + 100mA(‘SET’为设置数值) |
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测试时间精度 |
M1 模式< ±10mS+0.3﹪RD(‘RD’为实际工作时间数值), M2 模式<±10mS+0.5﹪RD(‘RD’为实际工作时间数值) |
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显示方式 |
7 寸触摸屏显示 |
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控制方式 |
FPGA+ARM 控制 |
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其他 |
支持外接 U 盘拷贝试验数据、数据保存功能,免费开放通信接口及提供底层通信协议 |



信号发生器生成波形的方式可以大致分为两种DDS模式和Arb模式。两种模式都具有优缺点。DDS模式具有低成本、低功耗、高分辨率和频率转换快等优点,适合输出调频、调相、扫频信号。但是DDS可能会丢失一些数据点。另外一种方式就是Arb模式,可以理解为真任意波形发生器的意思。使用Arb模式可以编辑真实的复杂的任意波形信号。无论是上述两种方式的哪一种或是一些新推出的其他方式的波形生成方法,采样(时钟)速率和分辨率都是非常关键的参数。时间交错可使用多个相同的ADC(文中虽然仅讨论了ADC,但所有原理同样适用于DAC的时间交错特性),并以比每一个单数据转换器工作采样速率更高的速率来处理常规采样数据序列。简单说来,时间交错(IL)由时间多路复用M个相同的ADC并联阵列组成。如图1所示。这样可以得到更高的净采样速率fs(采样周期Ts=1/fs),哪怕阵列中的每一个ADC实际上以较低的速率进行采样(和转换),即fs/M。举例而言,通过交错四个10位/100MSPSADC,理论上可以实现10位/400MSPSADC。 http://www.qdhndq.com